Відбувся захист Фатєєвої Ліни Юріївни на здобуття наукового ступеня доктора філософії за спеціальністю 152 Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка

07.05.2025 року відбувся захист аспірантки кафедри автоматизації, метрології та енергоефективних технологій Фатєєвої Ліни Юріївни на здобуття наукового ступеня доктора філософії з галузі знань 15 Автоматизація та приладобудування за спеціальністю 152 Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка. Назва дисертаційної роботи: «Удосконалення методів оцінювання ризиків безпеки праці на виробництві з застосуванням функціонально-залежних статистик».

Науковий керівник: Грінченко Ганна Сергіївна, доцент кафедри автоматизації, метрології та енергоефективних технологій, Навчально-наукового інституту «Українська інженерно-педагогічна академія» Харківського національного університету імені В. Н. Каразіна, кандидат технічних наук, доцент.

Склад разової спеціалізованої вченої ради:
Голова – Купріянов Олександр Володимирович, заступник директора Навчально-наукового інституту «Українська інженерно-педагогічна академія» Харківського національного університету імені В.Н. Каразіна, доктор технічних наук, професор.
Рецензент – Цихановська Ірина Василівна, професор кафедри харчових технологій, легкої промисловості і дизайну Навчально-наукового інституту «Українська інженерно-педагогічна академія» Харківського національного університету імені В.Н. Каразіна, доктор технічних наук, професор.
Офіційний опонент – Кучерук Володимир Юрійович, професор кафедри інформаційних технологій Уманського національного університету садівництва, доктор технічних наук, професор.
Офіційний опонент – Микийчук Микола Миколайович, директор Інституту комп’ютерних технологій, автоматики та метрології Національного університету «Львівська політехніка», доктор технічних наук, професор.
Офіційний опонент – Рудик Юрій Іванович, головний науковий співробітник відділу організації науково-дослідної діяльності Львівського державного університету безпеки життєдіяльності, доктор технічних наук, доцент.

Leave a Reply

Your email address will not be published. Required fields are marked *